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X-선 형광분석법 (X-Ray Fluorescence Spectrometry)는 시료에 X-선을 주사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X-선을 이용하여 분석하는 방법이다. XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 화학적 변화 없이 분석이 가능하며, 다양한 형태의 시료 분석이 가능하다. 또한, Be부터 U까지 전원소를 넓은 농도 범위에서 신속하게 분석할 수 있다. 지질, 화학 시료에서부터 제강, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석이 가능하다.
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X-선 형광분석법 (X-Ray Fluorescence spectrometry)는 시료에 X-선을 주사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X-선을 이용하여 분석하는 방법이다. XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 화학적 변화 없이 분석이 가능하며, 다양한 형태의 시료 분석이 가능하다. 또한, Be부터 U까지 전원소를 넓은 농도 범위에서 신속하게 분석할 수 있다. 지질, 화학 시료에서부터 제강, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석이 가능하다.
 
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* [[xrayphotoelectronspectroscopy]]
 
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2019년 9월 20일 (금) 16:54 기준 최신판

X-ray fluorescence spectrometry
엑스레이 형광 분석법 (XRF)
글자 수 28
분류 <물리>
어인정 X
미션 r(4), e(4), c(3)

X-선 형광분석법 (X-Ray Fluorescence spectrometry)는 시료에 X-선을 주사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X-선을 이용하여 분석하는 방법이다. XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 화학적 변화 없이 분석이 가능하며, 다양한 형태의 시료 분석이 가능하다. 또한, Be부터 U까지 전원소를 넓은 농도 범위에서 신속하게 분석할 수 있다. 지질, 화학 시료에서부터 제강, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석이 가능하다.

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